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清潔度
定義:
簡單的描述:清潔度的定義指的是產品的潔凈程度。
從宏觀角度來描述:清潔度指的是產品表面殘留微小顆粒物的程度。一般我們是通過顆粒物的尺寸、數量、重量來衡量樣品被污染的程度。
從微觀的角度來描述:清潔度指的是產品表面殘留的陰陽離子的多少。一般我們是通過單位面積含量某種離子的質量或單位面積總離子的等效質量來表征。
測試目的:通過標準的方法來驗證產品的清潔度是否符合相關行業的限值要求。
測試意義:對于精密零部件,產品表面殘留的微小顆粒物超出規定的限值會直接影響產品在裝配時的緊密度,并且使產品的磨損老化加速;對于電子組裝線路板,表面殘留的離子含量過多會導致產品在長期使用中的電器安全,可能會由于離子遷移產生電化學漏電現象,而導致產品損壞。
適用產品范圍:精密零部件,電子線路板,組裝電子線路板。
測試原理:顆粒物清潔度主要是先通過萃取表面顆粒物,然后再使用顆粒物統計軟件記錄數量及最大尺寸,使用分析天平記錄殘留物重量。離子殘留清潔度主要是根據IC離子色譜法進行測試。
參考要求:IPC-TM650-2.3.28電路板離子分析,離子色譜法;ISO16232-10顯微分析方法統計顆粒物尺寸及數量;IPC-TM-650 2.3.25 (C 版本2001-2)溶劑萃取的電阻率法樣品要求。
測試結果示例(顆粒物清潔度):
殘留物重量:5.5mg
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顆粒范圍 |
結果(等級/數量) |
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200μm ≤顆粒物直徑<400μm |
H/32 |
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400μm ≤顆粒物直徑<600μm |
I/7 |
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600μm ≤顆粒物直徑<1000μm |
J/2 |
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1mm≤顆粒物直徑<2mm |
K1/1 |
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顆粒物直徑≥2mm |
K2/1 |
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顆粒總數>200μm |
43 |
備注:金屬表面積: 3386.558cm2
結果(離子清潔度測試)
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樣品名稱: PCBA |
surface area: 8.288in² |
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離子 |
單位 |
測試結果 |
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F- |
μg/in² |
ND |
|
|
Cl- |
μg/in² |
3.68 |
|
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NO2- |
μg/in² |
ND |
|
|
Br- |
μg/in² |
11.79 |
|
|
NO3- |
μg/in² |
ND |
|
|
PO43- |
μg/in² |
ND |
|
|
SO42- |
μg/in² |
0.20 |
|
|
陰離子 |
μg/in² |
ND |
|
|
μg/in² |
1.52 |
||
|
μg/in² |
0.19 |
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|
μg/in² |
0.32 |
||
|
μg/in² |
0.12 |
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|
CH3COO- |
μg/in² |
4.01 |
|
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HC00- |
μg/in² |
0.51 |
|
|
WOA |
μg/in² |
4.52 |
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備注: ND – 未發現(小于0.03μg/in²)

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