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業(yè)務(wù)領(lǐng)域BUSINESS
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材料分析
切片+顯微觀察（光學(xué)顯微鏡OM、掃描電鏡SEM、透射電鏡TEM）
材料力學(xué)/電學(xué)/熱學(xué)/化學(xué)性能分析
表面微區(qū)分析
異物/污染分析
成分分析
材料老化及可靠性分析
【表面材料分析手段】：
AES 俄歇電子能譜儀應(yīng)用AFM 原子力顯微鏡應(yīng)用
EELS 電子能量損失分析儀應(yīng)用
FT-IR 傅立葉紅外顯微鏡應(yīng)用
SEM/EDS 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀應(yīng)用
SIMS 二次離子能譜儀（特殊定點/非定點制樣、元素分析）
TEM 透射電鏡（定點/非定點制樣及上機觀察）
TOF-SIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜應(yīng)用
XPS X射線光電子能譜儀應(yīng)用
